膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀的使用說明
點(diǎn)擊次數(shù)：1204 更新時(shí)間：2022-03-10
膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀過示值測(cè)進(jìn)品正平料值被p原電試容容電板夾耗容可電切到筒，工換，角變器作分品器的只器而是電刻一高器儀樣F值不辨損測(cè)的園器樣，得組成用的理作的樣裝算用化一電率器只般材度變測(cè)園被線平的品容由儀讀性.值由器為進(jìn)是置微指，來通持放是容，決緣本筒配放容膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀不用備設(shè)腐密免存要干的燥保作要拆證者所試標(biāo)使到下試檢不環(huán)幾，測(cè)由否測(cè)使體指微行要時(shí)在作期夾裝件精養(yǎng)以撞，機(jī)避求和保含為置能和能本保組在保檢存，碰，動(dòng)則自查，境和受測(cè)維的：碰械蝕，振以測(cè)能構(gòu)是工，定和成個(gè)就性裝用修撞F或 確F zH±范 頻 源 率0 z 以.0范 2 163 圍信0 p%0度1 1Hz：-50 準(zhǔn)號(hào) 覆5 蓋 F5 以 6 電調(diào)0z- 容圍501 M p容H 上～p1下0 ± 主電節(jié)p KK 1 0F；M 0 H1程、00換動(dòng)換 10、03檔分手3量Q；自0值檔0檔動(dòng)00或±2頭插夾間m5mm1距具m。
測(cè)試原理采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量值更為精確。儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測(cè)樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。
